低阻抗分析儀/表面阻抗測(cè)試儀 型號(hào):DP-MCP-T370

四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測(cè)量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕，確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量能，可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測(cè)試值的準(zhǔn)確性。
測(cè)量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)器。

規(guī)格
測(cè)量方法	四端四探針法 施加恒定電流的方法
測(cè)量范圍	10 -2?10 6 Ω
標(biāo)準(zhǔn)配置	四探針探頭（ASP）AC適配器 說(shuō)明書 檢查確認(rèn)書

選項(xiàng)

探頭選項(xiàng)
類型	適用被測(cè)試樣品	型號(hào)
ESP	對(duì)于異類樣本	MCP - TP08P
PSP	小樣本的薄膜	MCP - TP06P
QPP	對(duì)于小樣本	MCP - TPQPP
TFP	有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜	MCP - TFP

校準(zhǔn)塊

型號(hào)：MCP - TRF1