平均粒度測(cè)試儀/平均粒度檢測(cè)儀 型號(hào)：DP-WLP-209

DP-WLP-209型平均粒度測(cè)試儀根據(jù)家標(biāo)準(zhǔn)（費(fèi)氏法）要求，在對(duì)被測(cè)粉末試樣施壓時(shí)，采用了LTDK型可設(shè)定空轉(zhuǎn)式扭矩起子，（非同其他儀器所使用無科學(xué)依據(jù)的壓力校正器）。采用LTDK型扭矩起子，可使何操作人員在對(duì)粉末測(cè)試過程中均可達(dá)到相同的壓制力，地得到同種*孔隙度，消除了人為誤差，使被測(cè)粉末粒徑更加準(zhǔn)確，同時(shí)本儀器配有雙向擴(kuò)展讀數(shù)板，孔隙度范圍由原來的0.80—0.40（擴(kuò)到0.95—0.80、擴(kuò)到0.40—0.25），滿足了各種粉末測(cè)試需求。

標(biāo)： 

1、度：±3% 
2、測(cè)試范圍： 0.2-50 μ m （微米） 
　　 *檔： 0.2-20 μ m 
　　 二檔： 20-50 μ m 
3.孔隙度范圍：0.95－0.80
　　　　　　　0.80－0.40
　　　　　　　0.40－0.25
4、準(zhǔn)確度：±3% 
5、環(huán)境濕度：相對(duì)濕度 ≤80% 
6、環(huán)境溫度： 25 ± 10 ℃ 
7、電源： ～220 ± 22V 50赫茲
8、率： 25W 
9、重量： 18kg 
10、外型尺寸： 746 × 394 × 240mm3